本设计实例描述了一个非易失性门控功能的简单替代方案，通常实现门控功能要使用PAL（可编程逻辑阵列）、GAL（门阵列逻辑）或CPLD（复杂可编程逻辑器件）。要实现阻挡或放行一个逻辑信号的门控功能，通常会采用一个逻辑门，如AND门，用它的第二个输入端确定是否阻挡住施加的信号。由于逻辑门是即时的布尔运算，因此它们的运行是组合型的，不需要存储器。
但是，如果你必须将一个门设定为在系统启动后阻挡或放行信号，则须将“传送/阻挡”逻辑状态保存在某种形式的非易失存储器中。保存这些逻辑状态有两个基本方法。第一种方法，用微控制器和非易失性存储器的组合，如E2PROM。这种方法适用于系统可以等待微控制器从存储器中读取逻辑状态，再将其加到硬件管脚的情况，一般是使用微控制器的一个通用I/O脚。不过，有些系统要求在启动时对信号做传送/阻挡。对于这些系统，就不能接受存储器的读取延迟。
第二种方法用于无微控制器的系统，或者不能等待微控制器在启动时从存储器读取状态的情况，它将逻辑状态保存在一个器件中，这样启动时就可以立即使用。PAL器件、GAL器件和CPLD与可编程非易失存储器组合都能实现门控功能。不过，这些
器件远不止存储器门控这一种功能，对于只需要几个门的系统它的规格过高。另外，为了容纳多个逻辑I/O脚，它们的封装也相对较大。
如果只需要几个非易失性门，可考虑使用一种在模拟系统和混合信号系统中常见的元件：数字电位计（图1）。将电阻串的L端接地，信号送至电阻串的H端。这样，动片输出与地短路时就是阻挡输入信号，而与输入信号相接时就是传送输入信号。
可以在电路板测试或系统测试期间，通过它的串行接口对数字电位计编程。有些数字电位计上的up/down接口就适合于这种用途。当选择一款非易性失数字电位计时，应该考虑下列准则：
● 数字电位计通常有32个以上的抽头；而你至少需要两个。数字电位计的动片有一个内部开关电阻，其阻值应足够小，以免切换信号失真。典型的动片电阻为100Ω~1kΩ。对于Maxim公司的MAX5527，动片电阻为90Ω。
● 由于数字电位计动片的电阻会随供电电压增加而下降，所以应选择高的供电电压。
● 为尽量减少信号源的负载，并且不限制电位计信号的带宽，应选择有较大的端至端电阻的器件；100kΩ是很多应用可以接受的阻值。
● 如果必须在非易失性存储器中编程门状态，则要选择非易失性数字电位计。有些数字电位计是OTP型（一次性编程），可以用这一功能保存动片的设置。OTP式适用于不打算对门控功能作修改的情况。必须保存门状态的门数量决定了所需电位计的数量。现有每个封装为1个~6个阵列，或者更多。
数字电位计带宽决定了信号通过电位计传输的最大数据速率。如果这些逻辑信号的开关速率远高于所选的电位计，则可以用一般的高速逻辑门配合数字电位计，控制输入信号的传输/阻挡（图2）。