简易锂电池保护IC测试电路的设计

技术分类: 电源技术  | 2006-12-12
来源:今日电子 | 中国地质大学 蔡欢欢

      ● 测试过流保护电压时,即测试使OD引脚从高电平跳变为低电平的CS引脚电压。短流保护电压远高于过流保护电压,当电压达到过流保护电压时电路已经发生跳变,OD输出一直为低电平,因此常规方法无法测试出短流保护电压,于是,本文采用了一种间接的近似测试方法。IC对过电流保护的延迟时间大概为几个到十几个毫秒,而短流延迟时间则大概为十几个微秒,因此可以根据过流延迟时间与短流延迟时间的不同来近似测试短流保护电压。此参数使用专用的锂电池保护板测试仪也无法测出。

      本测试电路也存在一些不足。一是对IC测试的精度与电源稳定度、电表精度有关,其中,对各种电压测试的精度还与可变电位器的精度有关;二是短流保护电压测得的是近似值。

      总结

      虽然目前市场上有很多锂电池保护板测试仪,但价格昂贵,并且测试参数固定,不能满足实际测试的需要。在实际的应用中,客户最注重的锂电池保护IC的几个主要参数为:过充、过放和过流保护电压、静态工作电流和断电电流、

过充、过放和过流保护延迟,以及OD、OC引脚的输出高、低电平。本文提供的测试方法可以很精确地测出上述参数,已经超出了锂电池保护板测试仪所能测试的参数。因此,在一些对锂电池保护IC参数要求很全面或条件比较受限制的场合,本文提供的测试电路和测试方法是一种较好的选择。

      上述测试电路和测试方法已经投入使用,现已成功测试千余片锂电池保护IC。从测试结果来看,除了短流保护电压是近似测试以外,其余参数测试都与专用的测试仪器测出的结果非常吻合;从客户反映情况来看,该测试电路测出的参数准确,能满足客户需要。由于本测试电路没有封装(加外壳),可以根据客户的需要增加适当电路测试出更多参数(如本文中提到的测试MOSFET漏电流大小)。

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