ASE Test选择惠瑞捷V93000 Port Scale RF进行复杂RF-SOC测试

技术分类: 测试与测量  | 2008-03-19
EDN China

  惠瑞捷半导体宣布ASE Test已经购买了惠瑞捷Port Scale RF解决方案,为其客户测试高度集成的无线通信器件。ASE Test为世界各地的集成设备制造商(IDM)和无晶圆厂公司提供全系列测试服务。ASE Test选择Port Scale RF解决方案是因为其独一无二的性能和可扩展的V93000平台,并且惠瑞捷的测试平台已经被整个半导体测试和制造业所广泛。

  ASE Test首席运营官Tien Wu表示:“为继续向客户提供最好的测试服务及利用最新技术,我们购买了最优质的测试解决方案。我们的客户已经采用V93000 Port Scale RF测试最新、最先进的手机芯片。这是我们使用Port Scale RF在生产中测试的第一个器件,我们对其性能和测试结果质量非常满意。”

  惠瑞捷半导体科技有限公司销售、服务和支持副总裁Pascal Ronde表示:“对于能够进一步扩展与ASE Test的合作关系,我们感到非常高兴。该公司新近购买我们的产品表明,作为世界上最先进的RF测试解决方案,Port Scale RF已经得到业内的认可。现在,ASE Test将能够为客户提供包括最新的3G和4G技术在内的全系列复杂RF-SoCs和RF-SiPs测试。”

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