在测试测量行业高速发展的今天，工程师们对数据采集系统的精度、采样率和传输速率要求越来越高，如何快速构建高效完整的数据采集系统成为整个测试测量工程项目的核心与关键。2008年泛华测控DAQ事业部“快速构建高效完整的数据采集系统”全国巡回研讨会将为您解析数采系统的搭建过程，并通过用户案例与您共同探讨数据采集的解决方案，以满足广大测试测量工程师对数采系统的专业需求，敬请关注！
泛华测控DAQ事业部是National Instruments（美国国家仪器有限公司）与北京中科泛华测控技术有限公司联合成立的部门，DAQ事业部以NI高品质数据采集产品为平台，秉承以人为本的服务理念，为国内数据采集用户提供专业而完善的售前售后服务。
本届全国巡回研讨会将分别于2008年10月14日、16日和21日在北京、天津、青岛三地举办，届时，DAQ事业部将向您展示最新的NI数据采集产品，并且免费为您发放尖端产品资料和数据采集白皮书，并为广大测试测量工程师提供现场技术咨询。此次研讨会将引领您进入数据采集技术的殿堂，您不仅会了解到数据采集和信号调理基础知识，NI数据采集产品的性能和优势所在，还将掌握
快速构建高效完整的数据采集系统的先进技术以及数采产品的选型方法。涉及的产品包括：M系列多功能数据采集卡、S系列同步数据采集卡、USB便携式数据采集设备、LabVIEW的图形化开发平台等多种产品。
作为全球数采设备的专业供应商，泛华测控DAQ事业部将致力于为客户提供最贴心和专业的服务，与客户携手共同成长是DAQ事业部最大的心愿！
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