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解决银晶须问题的 纳米电子开关
NIST（美国标准与技术学会）的研究人员演示了一种纳米级的电子开关，它使银材料的某种令人讨厌的属性变为一种特性，而不再是一种毛病。银有高的导电性，可以成为电路的良好材料，但当暴露在电场中时，银离子容易.... EDN China
http://article.ednchina.com/Other/20070531093218.htm 2007-05-31

惠瑞捷 纳米电子数字信号测试解决方案可提高生产良率
惠瑞捷半导体科技有限公司（VerigyLtd.）针对65纳米和更小制程所生产之先进数字IC的晶圆测试（WaferSort）及终程测试（FinalTest），推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电....
http://article.ednchina.com/TestMeasure/20070831075520.htm 2007-08-31

惠瑞捷 纳米电子数字信号测试解决方案可提高生产良率
惠瑞捷半导体科技有限公司（VerigyLtd.）针对65纳米和更小制程所生产之先进数字IC的晶圆测试（WaferSort）及终程测试（FinalTest），推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电.... EDN China
http://article.ednchina.com/TestMeasure/20070831075704.htm 2007-08-31

中科院微系统所携手香港科技大学共建 纳米电子器件实验室
为了进一步发挥各自优势，提升科研实力，达到优势互补，近日，中科院微系统所所长封松林、纳米技术研究室主任宋志棠代表微系统与香港科技大学签约成立“纳米电子器件联合实验室”。香港科技大学在纳电子器件研究方面.... 来源：中电网
http://article.ednchina.com/Analog/20080222080144.htm 2008-02-22

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