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运算放大器稳定性系列之电容性负载的稳定性——具有双通道反馈的 RISO（第四部分）
图10.54中的瞬态稳定性测试结果同时与Aol曲线上的1/b值和环路增益曲线一致，因此，证明了只采用FB#1构建参考缓冲电路，将导致电路运行的不稳定性。点击看原图图10.54FB#1瞬态稳定性测试：C.... 作者：德州仪器 (TI) 线性应用工程经理 Tim Green
http://article.ednchina.com/Analog/20080125102836.htm 2008-01-25

运算放大器稳定性系列之电容性负载的稳定性——具有双通道反馈的 RISO（第二部分）
如图10.19所示，里面会有一些主要的假设。我们将这些假设运用于几乎所有的具有双通道反馈的RISO电路中。首先，我们假设CL>10*CF，这也就是说，在高频率时，CL早在CF短路前短路。因此，我.... 作者：德州仪器 (TI) 线性应用工程经理 Tim Green
http://article.ednchina.com/Analog/20080125093548.htm 2008-01-25

运算放大器稳定性系列之电容性负载的稳定性——具有双通道反馈的 RISO（第三部分）
CMOSRRO:具有双通道反馈的RISO我们选择用于分析具有双通道反馈的RISO的CMOSRRO为OPA734，具体情况请参阅图10.38。OPA734是一款低漂移、低输入失调电压的运算放大器，其能在.... 作者：德州仪器 (TI) 线性应用工程经理 Tim Green
http://article.ednchina.com/Analog/20080125094546.htm 2008-01-25

运算放大器稳定性系列之电容性负载的稳定性——具有双通道反馈的 RISO（第一部分）
本系列的第10部分是我们所熟悉的《电气工程》杂志(ElectricalEngineering)中《保持电容性负载稳定的六种方法》栏目的第六种方法（也是最后一种方法）。这六种方法包括RISO、高增益和C.... 来源：德州仪器 (TI) 线性应用工程经理 Tim Green
http://article.ednchina.com/Analog/20080125090400.htm 2008-01-25

运算放大器稳定性(第 6 部分)电容性负载稳定性： RISO、高增益及 CF、噪声增益
本系列的第六部分是新《电气工程》杂志(ElectricalEngineering)中“保持容性负载稳定的六种方法”栏目的开篇。这六种方法是RISO、高增益及CF、噪声增益、噪声.... 来源：德州仪器/作者：Tim Green
http://article.ednchina.com/2006-08/2006817110610.htm 2006-08-17

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