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高性能电容传感器 检测系统
- 引言有多种测量电容的方法。但只有运算电容法适合自动在线测量。应用中使用较多的有直流充放电法和交流法。从信号处理过程来看，充放电法与交流法并无本质区别。充放电法的信号处理流程如图1。图1充放电法的信号处.... 来源：电子产品世界/北京理工大学机电工程学院 禹健
- http://article.ednchina.com/TestMeasure/20070703103358.htm 2007-07-03
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致茂电子推出表面三维形貌 检测系统
- 致茂电子将于2006台湾平面显示器展首次曝光全新研发的次奈米三维光学轮廓仪(Chroma75xx系列产品)，此一系列产品系采用白光干涉扫瞄原理(SWLI)，透过显微干涉仪、精密扫描系统和创新的算法，量.... EDN China
- http://article.ednchina.com/2006-06/2006614012321.htm 2006-06-14
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自动化X光 检测系统探测晶圆凸块空隙
- Feinfocus公司推出的WBI-FOX型自动化X光检测系统，据称是“业界第一批”专为满足晶圆制造行业特殊需求而设计的高端X光检测系统“之一”。这种基于该公司的FOX系列的新系统可解决近来晶圆制造行.... EDN China
- http://article.ednchina.com/2004-3/AtcShow2005127184254.htm 2004-03-05
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深紫外和红外圆片 检测系统发布
- 据SemiconductorReporter网站报道，OlympusMicro-Imaging近期宣布将于今年7月的SemiconWest展会上发布一款新型深紫外和红外圆片检测系统；以解决现行工艺中多.... EDN China
- http://article.ednchina.com/2006-05/2006523083805.htm 2006-05-23
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汽车倒车障碍 检测系统的解决方案
- 倒车障碍检测系统对盲区内障碍物的探测倒车障碍检测系统所采用的超声波传感器技术可以探测到附近的障碍物,为驾驶员提供倒车警告和辅助泊车功能,其原理是利用超声波探测倒车路径上或附近存在的任何障碍物,并及时发.... 作者：半导体应用
- http://article.ednchina.com/TestMeasure/20070326044056.htm 2007-03-26
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智能微弱信号 检测系统
- 1概述为了减少测量中手动操作锁相放大器的烦琐过程，开发了锁相放大器智能检测系统。该系统操作简单，可靠性高，界面友好，集信号产生、采集和处理于一身，可实现本地控制和远程控制，检测结束时可以在软件中直接输.... 来源：国外电子元器件
- http://article.ednchina.com/TM/20080316094020.htm 2008-03-16
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晶片键合质量的红外 检测系统设计
- 1引言晶片直接键合技术就是把两片镜面抛光晶片经表面清洗和活化处理,在室温下直接贴合,再经过退火处理增加结合强度而成为一个整体的技术。该技术不需要任何粘合剂，两键合片的电阻率和导电类型可以自由选择，工艺.... 半导体技术/周平等 华中科技大学 :EDN China
- http://article.ednchina.com/DisplayPhoto/20070109034914.htm 2007-01-09
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