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高速数字电路的设计与仿真
高速数字系统设计成功的关键在于保持信号的完整，而影响信号完整性(即信号质量)的因素主要有传输线的长度、电阻匹配及电磁干扰、串扰等。设计过程中要保持信号的完整性必须借助一些仿真工具，仿真结果对PCB布线.... 来源：高速数字电路的设计与仿真
http://article.ednchina.com/PLDFPGA/20071109082046.htm 2007-11-09

高速PCB设计中的时序分析及仿真策略
在网络通讯领域,ATM交换机、核心路由器、千兆以太网以及各种网关设备中,系统数据速率、时钟速率不断提高,相应处理器的工作频率也越来越高；数据、语音、图像的传输速度已经远远高于500Mbps,数百兆乃至.... 深圳市中兴通讯股份有限公司南京研发中心网络事业部秦洪密
http://article.ednchina.com/EDA/20080829113728.htm 2008-08-29

高性能仿真器与开发包加速普及DSP应用开发
DSP已经成为视频监控、影像处理、通信基础设施等许多应用中的关键技术。在开发过程中，工程师需要使用仿真器调试程序、找出软硬件接口的各种问题、优化系统性能，查看并控制设备——下载代码、运行、断点、查看寄.... 姚琳
http://article.ednchina.com/Other/20081127095735.htm 2008-11-27

高性能PCB信号完整性及电磁兼容仿真设计
随着电子设备工作速度的不断提高，连接设备、电路板、集成电路和器件的互连系统设计越来越成为制约整个系统设计成功的关键，以高速高密度PCB设计为例，其信号完整性（SI）问题、电源完整性（PI）问题以及电磁.... 汪彤，Ansoft中国代表处
http://article.ednchina.com/2005-8/AtcShow200582212943.htm 2005-08-05

飞兆为功率和仿真器件增长作好准备
近日飞兆半导体公司新任总裁兼首席执行长MarkThompson于上周在上海举行的新闻发布会上，宣布了公司新纪元的新战略。飞兆半导体计划通过重点战略来保持其在快速增长的功率半导体市场的领导地位，并加速相....
http://article.ednchina.com/2005-09/200597102840.htm 2005-09-07

面向快速嵌入式MCU设计的仿真
调试嵌入式应用有很多种方法。设计者利用包含电路内置仿真器（in-circuitemulator，ICE）和电路内置调试器（in-circuitdebugger，ICD）的调试工具可以快速构建出系统原型.... 作者：嵌入式在线/作者：Microchip公司 Darrel Johansen
http://article.ednchina.com/CPUDSP/20070902083751.htm 2007-09-02

集成的电路教学平台——从理论到设计仿真、原型测量、比较、实现
原文地址http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/6665近年来，工程教育理念发生了重要变化，已从之前注重培养学生理论知识，过渡到了培养学生对基本工程概念的兴趣和.... 来源：NI 高校市场部工程师梁锐
http://article.ednchina.com/TestMeasure/20071028113631.htm 2007-10-28

针对SPICE开发一款高精度Pt100 RTD 仿真器
引自EDN博客:TIAnalog作者：德州仪器(TI)高级应用工程师ThomasKuehl在实际组装原型电路之前，利用电路仿真程序对模拟电路进行预设计和测试是工程师们一贯的做法。虽然可以从市场上购得许.... 作者：TIAnalog
http://article.ednchina.com/Other/20080123083413.htm 2008-01-23

针对SPICE开发一款高精度Pt100 RTD 仿真器
在实际组装原型电路之前，利用电路仿真程序对模拟电路进行预设计和测试是工程师们一贯的做法。虽然可以从市场上购得许多基于SPICE的电路仿真器，但仍有许多家半导体公司将为其客户免费提供一款功能全面的精简版.... 作者：德州仪器 Thomas Kuehl
http://article.ednchina.com/EDA/20080125045652.htm 2008-01-25

采用电磁场仿真和测量技术快速定位电源/地阻抗存在的问题
电源与地之间的输入阻抗是衡量电源供电系统特性的一个重要的指标，影响电源供电系统特性的因素有：PCB的分层、电路板的布线、电源/地平面的形状、元器件的布局、过孔和引脚的分布、IC的工作频率等等因素。为了.... 来源：电子产品世界/邹治永
http://article.ednchina.com/TestMeasure/20061212013035.htm 2006-12-12

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